a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密來自測定。所產生的特征X射線(熒光)直接進入Si (Li)探側器，便可以據此進行定性分析和定f分析。第一臺EDXRF是iIL1年問世的。近幾年來。由于商品EDXRF儀器及計算機軟件的發展，功能完普，應用領城拓寬，其特點、優越性選尼錯那了更日益受到認識，發展迅猛。 二、波長色散型操城鋼X射線熒光光譜
